Akademik Unvanlar

  • 2023

      DOKTOR ÖĞRETİM ÜYESİ

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK-MİMARLIK FAKÜLTESİ

  • 2023 2019

      ÖĞRETİM GÖREVLİSİ

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK-MİMARLIK FAKÜLTESİ

Öğrenim Bilgisi

  • Doktora 2018

    " High Resolution Radiation Detectors Based on 4H-SiC N-Type Epitaxial Layers and Pixilated CdZnTe Single Crystal Devices  "

    University of South Carolina - Columbia {South Carolina}   

  • Yüksek Lisans 2014

    University of South Carolina - Columbia {South Carolina} ELEKTRİK MÜHENDİSLİĞİ  

  • Lisans 2010

    MERSİN ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ELEKTRİK-ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRİK-ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ PR.

İdari Görev Bilgisi

  • 2022 - Devam Ediyor
    Akademik Yazım ve Çeviri Destek Ofisi Koordinatör Yardımcısı

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ


  • 2021 - Devam Ediyor
    MÜDEK Komisyonu Başkanlığı

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ


  • 2021 - Devam Ediyor
    Kalite Komisyon Üyeliği

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ


  • 2019 - Devam Ediyor
    NÜKMER Fakülte Sorumlusu

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ


  • 2020 - Devam Ediyor
    Mezuniyet Komisyonu Üyeliği

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ


  • 2019 - Devam Ediyor
    Staj Komisyonu Üyeliği

    NEVŞEHİR HACI BEKTAŞ VELİ ÜNİVERSİTESİ


Ders Bilgisi

2018-2019 Lisans Analog Elektronik 2
2023-2024 Lisans Mikroelektroniğin Temelleri
2023-2024 Lisans EEM'nin Temelleri I
2023-2024 Lisans Temel Mühendislik Bilimleri I
2022-2023 Lisans Fotovoltaik Cihazlar ve Sistemler
2022-2023 Lisans Optoelektronik
2022-2023 Lisans Mesleki İngilizce
2022-2023 Lisans EEM'nin Temelleri II
2022-2023 Lisans Yarıiletken Elektronik Cihazlar
2022-2023 Lisans Mikroelektroniğin Temelleri
2022-2023 Lisans Temel Mühendislik Bilimleri I
2022-2023 Lisans EEM'nin Temelleri I
2019-2020 Lisans Bilgisayar Destekli Teknik Çizim
2023-2024 Lisans Yarıiletken Elektronik Cihazlar
2021-2022 Lisans Mesleki Ingilizce
2021-2022 Lisans EEM'nin Temelleri 2
2021-2022 Lisans Optoelektronik
2021-2022 Lisans Analog Elektronik I
2021-2022 Lisans EEM'nin Temelleri 1
2021-2022 Lisans Temel Mühendislik Bilimleri 1
2020-2021 Lisans İş Güvenliği ve Sağlığı 2
2020-2021 Lisans Mesleki Ingilizce
2020-2021 Lisans EEM'nin Temelleri 2
2020-2021 Lisans Optoelektronik
2020-2021 Lisans İş Güvenliği ve Sağlığı 1
2020-2021 Lisans Temel Mühendislik Bilimleri 1
2020-2021 Lisans EEM'nin Temelleri 1
2020-2021 Lisans Bilgisayar Destekli Teknik Çizim
2019-2020 Lisans Optoelektronik
2019-2020 Lisans İş Güvenliği ve Sağlığı 2
2019-2020 Lisans Mesleki İngilizce
2019-2020 Lisans EEM’nin Temelleri 2
2019-2020 Lisans İş Güvenliği ve Sağlığı 1
2019-2020 Lisans Temel Mühendislik Bilimleri 1
2019-2020 Lisans EEM’nin Temelleri 1
2022-2023 Yüksek Lisans Mikroelektronik Cihazlar
2021-2022 Yüksek Lisans Yarıiletken Malzeme ve Cihaz Karakterizasyon Teknikleri

Yayın Bilgisi

Filtrele:

Interdisciplinary Studies on Contemporary Research Practices in Engineering in the 21st Centruy-IV

ÖNER CİHAN, 2023.

Uluslararası Bilimsel Kitap Yayın Bilgisi: Özgür Yayınları, TÜRKİYE. | ISBN: 978-975-447-769-6

International Research in Engineering Sciences VIII

ÖNER CİHAN, 2023.

Uluslararası Bilimsel Kitap Yayın Bilgisi: Eğitim Yayınevi, TÜRKİYE. | ISBN: 978-625-6552-87-6

Current Debates on Natural and Engineering Sciences 11

ÖNER CİHAN, 2023.

Uluslararası Bilimsel Kitap Yayın Bilgisi: BIDGE Yayınları, TÜRKİYE. | ISBN: 978-625-6488-21-2

Reactor Dosimetry: 16th International Symposium

Mandal Krishna C,Chowdhury Towhid A,ÖNER CİHAN,Ruddy Frank H, 2018.

Uluslararası Bilimsel Kitap Yayın Bilgisi: ASTM International, AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ. | ISBN: 978-0-8031-7662-1

Deep Levels in n-Type 4H-Silicon Carbide Epitaxial Layers Investigated by Deep-Level Transient Spectroscopy and Isochronal Annealing Studies

Mannan Mohammad A,Nguyen Khai V,Pak Rahmi O,ÖNER CİHAN,Mandal Krishna C, 2016

Uluslararası Hakemli Özgün MakaleEndeks: SCI Yayın Yeri: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE Cilt: 63 Sayı: 2 DOI: 10.1109/TNS.2016.2535212 ISSN: 0018-9499

Crystal Growth and Characterization of Cdinf0.9/infZninf0.1/infTe for Gamma-Ray Detectors: Thermally Stimulated Current (TSC), Electron Beam Induced Current (EBIC), and Pulse Height Spectroscopy (PHS)

Yazarlar: ÖNER CİHAN,Chowdhury Towhid A,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) Etkinklik Tarihi: 21.10.2017-28.10.2017 Ülke: -

Deep Level Transient Spectroscopy and Pulse Height Measurements on High Resolution n-Type 4H-SiC Epitaxial Schottky Barrier Radiation Detectors

Yazarlar: ÖNER CİHAN,Chowdhury Towhid A,Santi Enrico,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) Etkinklik Tarihi: 21.10.2017-28.10.2017 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

Synthesis and Characterization of Amorphous Selenium Alloys Radiation Detectors

Yazarlar: Chowdhury Towhid A,ÖNER CİHAN,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) Etkinklik Tarihi: 21.10.2017-28.10.2017 Ülke: -

Improved radiation detectors on 4H-SiC epilayers by edge termination

Yazarlar: ÖNER CİHAN,Chowdhury Towhid A,Pak Rahmi O,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: Proceedings Volume 9968, Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XVIII Etkinklik Tarihi: 28.08.2016-01.09.2016 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

Investigation of 12 μm 4H-SiC epilayers for radiation detection and noise analysis of front-end readout electronics

Yazarlar: Nguyen Khai V,Pak Rahmi O,ÖNER CİHAN,Zhao Feng,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: 2015 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) Etkinklik Tarihi: 31.10.2015-07.11.2015 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

Investigation of metal contacts on high-resistivity large-area amorphous selenium alloy films

Yazarlar: ÖNER CİHAN,Nguyen Khai V,Pak Rahmi O,Chowdhury Towhid A,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: 2015 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) Etkinklik Tarihi: 31.10.2015-07.11.2015 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

Characterization of Cdinf0.9/infZninf0.1/infTe single crystals for radiation detectors

Yazarlar: Pak Rahmi O,Nguyen Khai V,ÖNER CİHAN,Chowdhury Towhid A,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: 2015 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) Etkinklik Tarihi: 31.10.2015-07.11.2015 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

Investigation of thermally evaporated high resistive B-doped amorphous selenium alloy films and metal contact studies

Yazarlar: ÖNER CİHAN,Nguyen Khai V,Pak Rahmi O,Mannan Mohammad A,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XVII Etkinklik Tarihi: 09.08.2015-13.08.2015 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

Defect characterization of Cd sub0.9/sub Zn sub0.1/sub Te crystals using electron beam induced current (EBIC) imaging and thermally stimulated current (TSC) measurements

Yazarlar: Pak Rahmi O,Nguyen Khai V,ÖNER CİHAN,Mannan Mohammad A,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XVII Etkinklik Tarihi: 09.08.2015-13.08.2015 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

Surface passivation and isochronal annealing studies on n-type 4H-SiC epitaxial layer

Yazarlar: Mannan Mohammad A,Nguyen Khai V,Pak Rahmi O,ÖNER CİHAN,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XVII Etkinklik Tarihi: 09.08.2015-13.08.2015 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

High-barrier Schottky contact on n-type 4H-SiC epitaxial layer and studies of defect levels by deep level transient spectroscopy (DLTS)

Yazarlar: Nguyen Khai V,Pak Rahmi O,ÖNER CİHAN,Mannan Mohammad A,Mandal Krishna C

Uluslararası Tam metin bildiri Etkinlik Adı: Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XVII Etkinklik Tarihi: 09.08.2015-13.08.2015 Ülke: AMERİKA BİRLEŞİK DEVLETLERİ

İletişim Bilgisi

DOKTOR ÖĞRETİM ÜYESİ CİHAN ÖNER  ( YÖK Araştırmacı ID: 298671   )


___ Bağlantılar ___